Automatische Anpressdruckkontroller mit digitaler Anzeige
Verschiedene Messsysteme aus Quarzglas, Al2O3, Graphit
Rate Controlled Sintering Software RCS
Verfügbare Absolut Dilatometer:
L75V 500LT -180°C bis +500°C
L75V 700LT -180°C bis +700°C
L75V 1000 RT bis 1000°C
L75V 1400 RT bis 1400°C
L75V 1550 RT bis 1600°C
L75V 1750 RT bis 1750°C
L75V 2000 RT bis 2000°C
L75V 2400 RT bis 2400°C
L75V 2800 RT bis 2800°C
Beschreibung
Das senkrechte Forschungsdilatometer der Serie L75V wurde entwickelt, um auf die speziellen Belange der Forschungslaboratorien weltweit sowie der Keramik- und Stahlindustrie einzugehen.
Diese Dilatometer können Messungen unter Vakuum, oxidierenden und reduzierenden Atmosphären durchführen (außer 2000°C / 2400°C Graphitofen).
Diese Serie hat eine eingebaute Anpressdruckkontrolle mit digitalem Display. Der Anpressdruck der Probe ist sehr wichtig, um genaue Messungen der CTE-Werte unter verschiedenen Druckbedingungen zu erhalten.
Um das Sintering Verhalten zu messen, wurde eine spezielle Rate Controlled Sintering Software L75/RCS entwickelt.
Anwendungsbeispiel:
Eisen
Eine Eisenprobe wurde mit dem Linseis L75 Dilatometer untersucht. Die lineare thermische Ausdehnung (ΔL) sowie der CTE „Coefficient of thermal Expansion“ wurden in einer Argon Atmosphäre bestimmt. Als Heizrate wurden 5K/min gewählt. Nach dem Erreichen von 736.3°C (Peak Temperatur des CTE) stellt sich eine Schrumpfung ein, die auf eine Veränderung der Atomstruktur, auch bekannt als „Curie Punkt“ zurückzuführen ist. Die leichte Abweichung von den Literaturwerten stammt von eine Verunreinigung der Probe.
Thermoanalyse
Dilatometer
