Automatische Anpressdruckkontroller mit digitaler Anzeige
Verschiedene Messsysteme aus Quarzglas, Al2O3, Graphit
Rate Controlled Sintering Software RCS
Verfügbare Absolut Dilatometer:
L75VS 500LT -150°C bis +500°C
L75VS 1000 RT bis 1000°C
L75VS 1400 RT bis 1400°C
L75VS 1550 RT bis 1600°C
L75VS 2000 RT bis 2000°C
L75VS 2400 RT bis 2400°C
Verfügbare Differential-Dilatometer
L75VD 1000 RT bis 1000°C
L75VD 1400 RT bis 1400°C
L75VD 1550 RT bis 1600°C
L75VD 2000 RT bis 2000°C
L75VD 2400 RT bis 2400°C
Beschreibung
Das senkrechte Forschungsdilatometer der Serie L75V wurde entwickelt, um auf die speziellen Belange der Forschungslaboratorien weltweit sowie der Keramik- und Stahlindustrie einzugehen.
Diese Dilatometer können Messungen unter Vakuum, oxidierenden und reduzierenden Atmosphären durchführen (außer 2000°C / 2400°C Graphitofen).
Diese Serie hat eine eingebaute Anpressdruckkontrolle mit digitalem Display. Der Anpressdruck der Probe ist sehr wichtig, um genaue Messungen der CTE-Werte unter verschiedenen Druckbedingungen zu erhalten.
Um das Sintering Verhalten zu messen, wurde eine spezielle Rate Controlled Sintering Software L75/RCS entwickelt.
Anwendungsbeispiel:
Keramische Industrie / Pulver Metallurgie
In Produktionsprozessen mit High Tech Keramiken (Al2O3) ist die Simulation des Sinterprozesses von speziellem Interesse. Unter Benutzung des Softwareprogrammes RCS (rate controlled sintering) ist es möglich, ein Programm zu erstellen, das ein kontrolliertes Sintern in einem Dilatometer nach der Palmour III Theorie ermöglicht. Hierbei wird eine vorausberechnete Enddichte erreicht. Das Bild zeigt den Sinterprozess von ZrO2. Hierbei wird die Enddichte von 100% erreicht. Die ursprüngliche Aufheizrate fällt ab, sobald die Enddichte erreicht wird.
Thermoanalyse
Dilatometer
